ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ
การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ - กรุงเทพฯ : ฟิสิกส์เซ็นเตอร์, 2534 - 208
วงจรอิเล็กทรอนิกส์
อิเล็กทรอนิกส์
TK7867 / ช647ก
การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเลคทรอนิคส์ - กรุงเทพฯ : ฟิสิกส์เซ็นเตอร์, 2534 - 208
วงจรอิเล็กทรอนิกส์
อิเล็กทรอนิกส์
TK7867 / ช647ก